Исследовательский вертикальный металлографический микроскоп BS-6024
Исследовательский вертикальный металлургический микроскоп BS-6024
Описание
Металлургические микроскопы серии BS-6024 были разработаны для исследований с рядом инновационных конструкций по внешнему виду и функциям, с широким полем зрения, высокой четкостью и полуапохроматическими металлургическими объективами со светлым/темным полем и эргономичной операционной системой. Созданы для того, чтобы обеспечить идеальное исследовательское решение.
Особенности
1. Бесконечная оптическая система.
Благодаря превосходной бесконечной оптической системе вертикальный металлургический микроскоп серии BS-6024 обеспечивает изображения с высоким разрешением, высокой четкостью и исправленными хроматическими аберрациями, которые очень хорошо отображать детали образцов.
2. Модульная конструкция.
BS-6024 имеют модульную конструкцию для различных применений в промышленности и материаловедении. Это дает пользователям гибкость для создания системы для конкретных нужд.
3. Функция ЭКО.
Освещение микроскопа автоматически выключается через 15 минут после ухода оператора. Это не только экономит энергию, но и продлевает срок службы лампы.
4. Удобный и простой в использовании.
(1) Объективы NIS45 Infinite Plan Semi-APO and APO.
Объективы могут точно воспроизводить естественный цвет благодаря тщательно подобранному высокопрозрачному стеклу и передовым технологиям нанесения покрытий. Доступны различные объективы, включая поляризационные и с большим рабочим расстоянием.
(2) Nomarski DIC.
Благодаря новому дисковому модулю перепад высот образца, который невозможно определить при ярком освещении, превращается в рельефное или трехмерное изображение. Он идеально подходит для наблюдения за проводящими частицами ЖК-дисплея, царапинами на поверхности жесткого диска и т.д.
(3) Система фокусировки.
Чтобы сделать систему подходящей для работы операторов, ручку фокусировки и ступени можно отрегулировать в левостороннем или правостороннем положении. Такая конструкция делает эксплуатацию более комфортной.
(4) Наклон тринокулярной головки.
Окулярный тубус может регулироваться от 0° до 35°, Тринокулярная может быть подключена к зеркальной и цифровой фотокамере с 3-позиционным разделителем луча. (0:100, 100:0, 80:20), разделительная планка может быть собрана с любой стороны в соответствии с требованиями пользователя.
5. Различные методы наблюдения.
Темное поле (Вафля)
Темное поле позволяет наблюдать рассеянный или дифрагированный свет от образца. Все, что не плоское, отражает этот свет, в то время как все, что плоское, кажется темным, поэтому недостатки четко выделяются. Пользователь может определить наличие даже мельчайшей царапины или дефекта размером до 8 нм, что меньше предела разрешающей способности оптического микроскопа. Темное поле идеально подходит для обнаружения мельчайших царапин или дефектов на образце и исследования образцов с зеркальной поверхностью, включая пластины.
Дифференциальный интерференционный контраст (проводящие частицы)
ДИК — это микроскопический метод наблюдения, при котором разница высот образца, не обнаруживаемая в светлом поле, становится рельефным или трехмерным изображением с улучшенным контрастом. В этом методе используется поляризованный свет, и его можно настроить с помощью трех специально разработанных призм. Идеально подходит для исследования образцов с очень незначительной разницей в высоте, включая металлургические структуры, минералы, магнитные головки, жесткие диски и поверхности полированных пластин.
Наблюдение за проходящим светом (LCD)
Для прозрачных образцов, таких как ЖК-дисплеи, пластмассы и стеклянные материалы, возможно наблюдение в проходящем свете с использованием различных конденсоров. Исследование образца в проходящем светлом поле и поляризованном свете может выполняться в одной удобной системе.
Поляризованный свет (асбест)
Этот микроскопический метод наблюдения использует поляризованный свет, генерируемый набором фильтров (анализатор и поляризатор). Характеристики образца напрямую влияют на интенсивность света, отраженного через систему. Подходит для металлургических структур (т. е. структуры роста графита на чугуне с шаровидным графитом), минералов, ЖК-дисплеев и полупроводниковых материалов.
Применение
Микроскопы серии BS-6024 широко используются в институтах и лабораториях для наблюдения и определения структуры различных металлов и сплавов, а также могут использоваться в электронной, химической и полупроводниковой промышленности, такой как пластины, керамика, интегральные схемы, электронные микросхемы, печатные устройства, печатные платы, ЖК-панели, пленка, порошок, тонер, проволока, волокна, гальванические покрытия и другие неметаллические материалы.
Технические характеристики
Название |
Спецификация |
BS-6024RF |
BS-6024ТRF |
|
Оптическая система |
Оптическая система с бесконечной цветокоррекцией NIS 45 (длина трубки: 200 мм) |
● |
● |
|
Смотровая головка |
Эргономичная тринокулярная головка с наклоном, регулируемая по наклону 0–35°, межзрачковое расстояние 47–78 мм; Коэффициент разделения Окуляр: Тринокуляр = 100:0 или 20:80 или 0:100 |
● |
● |
|
Тринокулярная насадка Seidentopf, угол наклона 30°, межзрачковое расстояние: 47–78 мм; Коэффициент разделения Окуляр: Тринокуляр = 100:0 или 20:80 или 0:100 |
○ |
○ |
||
Бинокулярная насадка Seidentopf, угол наклона 30°, межзрачковое расстояние: 47–78 мм |
○ |
○ |
||
Окуляр |
Сверхширокоугольный окуляр SW10X/25 мм с регулируемой диоптрией |
● |
● |
|
Сверхширокоугольный окуляр SW10X/22 мм с регулируемой диоптрией |
○ |
○ |
||
Сверхширокоугольный окуляр EW12,5X/16 мм с регулируемой диоптрией |
○ |
○ |
||
Широкоугольный окуляр WF15X/16 мм с регулируемой диоптрией |
○ |
○ |
||
Широкоугольный окуляр WF20X/12 мм с регулируемой диоптрией |
○ |
○ |
||
Объектив |
NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO (BF и DF) |
5X/NA=0,15, WD =20 мм |
● |
● |
10X/NA=0,3, WD =11 мм |
● |
● |
||
20X/NA=0,45, WD =3,0 мм |
● |
● |
||
NIS45 Infinite LWD Plan APO (BF и DF) |
50X/NA=0,8, WD =1,0 мм |
● |
● |
|
100X/NA=0,9, WD =1,0 мм |
● |
● |
||
NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO (BF) |
5X/NA=0,15, WD =20 мм |
○ |
○ |
|
10X/NA=0,3, WD =11 мм |
○ |
○ |
||
20X/NA=0,45, WD =3,0 мм |
○ |
○ |
||
NIS60 Infinite LWD Plan APO (BF) |
50X/NA=0,8, WD =1,0 мм |
○ |
○ |
|
100X/NA=0,9, WD =1,0 мм |
○ |
○ |
||
Наконечник |
Шестикратная револьверная головка заднего хода (DIC) |
● |
● |
|
Конденсор |
Конденсор LWD NA0,65 |
○ |
● |
|
Проходящее освещение |
Галогенная лампа 24В/100Вт, подсветка Kohler, с фильтром ND6/ND25 |
○ |
● |
|
Лампа S-LED мощностью 3 Вт , предустановленная по центру, регулируемая интенсивность |
○ |
○ |
||
Отраженное освещение |
Галогенная лампа отраженного света 24 В/100 Вт, подсветка Келера, с 6-позиционной револьверной головкой |
● |
● |
|
Галогенная лампа 100Вт |
● |
● |
||
Отраженный свет со светодиодной лампой 5 Вт, освещение Kohler, с 6-позиционной револьверной головкой |
○ |
○ |
||
Модуль светлого поля BF1 |
○ |
○ |
||
Модуль светлого поля BF2 |
● |
● |
||
Модуль темного поля DF |
● |
● |
||
Встроенный фильтр ND6, ND25 и фильтр цветокоррекции |
○ |
○ |
||
ЭКО-функция |
Функция ECO с кнопкой ECO |
● |
● |
|
Фокусировка |
Низкопозиционная коаксиальная грубая и точная фокусировка, точное деление 1 мкм, диапазон перемещения 35 мм |
● |
● |
|
Макс. высота образца |
76 мм |
● |
|
|
56 мм |
|
● |
||
Предметный столик |
Двухслойный механический столик размером 210 мм х 170 мм; диапазон перемещения 105 мм х 105 мм (правая или левая ручка); точность: 1 мм; с твердой оксидированной поверхностью для предотвращения истирания, направление Y может быть заблокировано |
● |
● |
|
Держатель может использоваться для удержания пластин размером 2”, 3”, 4” |
○ |
○ |
||
Комплект DIC |
Комплект DIC для отраженного освещения (для объективов с увеличением 10X, 20X, 50X, 100X ) |
○ |
○ |
|
Поляризационный комплект |
Поляризатор для отраженного освещения |
○ |
○ |
|
Анализатор отраженного освещения, поворотный на 0-360 ° |
○ |
○ |
||
Поляризатор для проходящего освещения |
|
○ |
||
Анализатор проходящего освещения |
|
○ |
||
Другие аксессуары |
0,5X C-образный адаптер |
○ |
○ |
|
1X C-образный адаптер |
○ |
○ |
||
Пылезащитный чехол |
● |
● |
||
Шнур питания |
● |
● |
||
Калибровочный слайд 0,01 мм |
○ |
○ |
||
Прижимное устройство для образцов |
○ |
○ |
Примечание: ● Стандарт; ○ Опция
Размеры BS-6024RF
Размеры BS-6024ТRF
Единица: мм
Схема
ООО «ГК Гермес» работает с юридическими лицами и индивидуальными предпринимателями. Оплата заказа осуществляется с помощью банковского перевода.
После подтверждения заказа будет выставлен счет на оплату, счет будет отправлен на указанную вами электронную почту. Менеджер свяжется с вами для уточнения всех деталей заказа.
Информация о юридическом лице:
Общество с ограниченной ответственностью «ГК Гермес»
Генеральный директор Вяткина Екатерина Александровна
Юридический адрес: 195271, город Санкт-Петербург, проспект Кондратьевский 64 корп.4, литер А, 99
Фактический адрес: 198328, город Санкт-Петербург, Брестский бульвар, д. 8, лит. А, оф. 518
ИНН 7804647986
КПП 780401001
ОГРН 1197847119282
АО «ТИНЬКОФФ БАНК»
Р/сч. 40702810310000536778
К/сч. 30101810145250000974
БИК 044525974
ООО «ГК Гермес» осуществляет доставку заказанного оборудования по всей территории России и СНГ.
Доступна доставка транспортными компаниями ТК «Деловые линии» и СДЭК.
Для отправки Вашего заказа другой транспортной компанией, потребуется доверительное письмо. Для согласования условий доставки свяжитесь с вашим менеджером.
Самовывоз со склада:
Вы можете самостоятельно забрать ваш заказ с одного из складов компании «ГК Гермес» в Москве или Санкт-Петербурге.
Склад в г. Санкт-Петербург:
Кубинская ул.75 к.1, Санкт-Петербург, 196240
Склад в г. Москва:
г. Троицк, ул. Промышленная, д. 21, Москва, 108840
Сроки и стоимость доставки зависят от региона поставки, габаритов груза и будут рассчитаны менеджером при оформлении заказа.