Прямой микроскоп для материаловедения Zeiss Axiolab 5

Zeiss Axiolab 5 — это идеальный микроскоп для рутинных задач в материаловедении и смарт-документирования. Он обеспечивает высокие стандарты эргономики и эффективного цифрового документирования результатов, делая его оптимальным выбором для повседневных исследований. Микроскоп Zeiss Axiolab 5 сочетает в себе высокую эргономичность и простоту использования с возможностью смарт-документирования, что делает его незаменимым инструментом для повседневных исследований в материаловедении и минералогии.

Преимущества

• Смарт-микроскопия без дополнительного ПО: Концепция смарт-микроскопии в Axiolab 5 не требует дополнительного программного обеспечения или компьютера для получения изображений, что делает его экономически выгодным решением. Этот микроскоп удобен как для опытных пользователей, так и для новичков, обеспечивая быстрое получение надежных результатов.
• Легкость в использовании: Axiolab 5 позволяет получить изображение простым нажатием кнопки съемки сразу после определения области интереса на поверхности образца. Пользователь может управлять микроскопом и подключенной камерой, не отпуская рукоятку и не отвлекаясь от образца.
• Эргономичность и удобство: Микроскоп предлагает простую и эргономичную пользовательскую концепцию, адаптированную к лабораторным условиям. Все основные элементы управления, включая клавишу съемки, привод столика, регулировку фокуса и управление яркостью, можно контролировать одной рукой.
• Применение в металлографии: Определение размеров зерна, структуры, распределения и фаз. Быстрый анализ "на месте". Исследование разрушения материала: усталость, коррозия, деформация ползучести, трещины и изломы. Быстрое изучение материала и документирование. Входной контроль. Анализ брака. Контроль качества технологического процесса.
• Применение в минералогии: Изучение тонких срезов горных пород и минералов для определения их состава. Классификация анизотропных материалов, таких как кальцит, оливин, титанит или циркон. Определение показателей преломления, расщепления, двойного преломления, углов затухания, разности оптических путей, а также количества и угла оптических осей.