Исследовательский вертикальный металлографический микроскоп BS-6025

Исследовательский вертикальный металлургический микроскоп BS-6025

Описание

Прямые металлургические микроскопы серии BS-6025 были разработаны для исследований с рядом инновационных конструкций по внешнему виду и функциям, с широким полем зрения, высоким разрешением, полуапохроматическими металлургическими объективами со светлым/темным полем и эргономичной операционной системой. Объективы могут включаться с помощью кнопок на передней панели микроскопа, интенсивность освещения будет меняться после смены объектива.

Особенности

Благодаря превосходной бесконечной оптической системе вертикальный металлургический микроскоп серии BS-6025 обеспечивает изображения с высоким разрешением, высокой четкостью и коррекцией хроматических аберраций, которые могут очень хорошо отображать детали образца.

BS-6025 имеют модульную конструкцию для различных применений в промышленности и материаловедении. Это дает пользователям гибкость создания системы для конкретных нужд.

(1) Моторизованный переключатель объектива и функция ECO.

Объективы можно было переключать простым нажатием вращающихся кнопок. Пользователи также могут самостоятельно определить два наиболее часто используемых объектива и переключаться между ними нажатием зеленой кнопки. Интенсивность света будет автоматически отрегулирована после того, как изменится объектив.

Подсветка микроскопа автоматически выключится через 15 минут после ухода операторов. Это не только экономит энергию, но и продлевает срок службы лампы.

(2) Кнопки быстрого доступа.

С помощью кнопки быстрого доступа пользователь может быстро переключать 2 предустановленных объектива. Эта кнопка быстрого доступа также может быть установлена пользователями вместе с другими функциями.

(1)Объективы NIS45 Infinite Plan Semi-APO and APO.

Благодаря высокопрозрачному стеклу и передовой технологии нанесения покрытий, объектив NIST 45 позволяет получать изображения с высоким разрешением и точно воспроизводить естественный цвет образцов. Доступны различные объективы, включая поляризационные и с большим рабочим расстоянием.

(2) Nomarski DIC.

Благодаря новому дисковому модулю перепад высот образца, который невозможно определить при ярком освещении, превращается в рельефное или трехмерное изображение. Подходит для наблюдения за проводящими частицами ЖК-дисплея, царапинами на поверхности жесткого диска и т.д.

(3) Система фокусировки.

Чтобы сделать систему подходящей для работы операторов, ручку фокусировки и ступени можно отрегулировать в левостороннем или правостороннем положении. Такая конструкция делает эксплуатацию более комфортной.

(4) Эргономичный наклон тринокулярной головки.

Окулярный тубус может регулироваться от 0° до 35°, Тринокулярный может быть подключен к зеркальной и цифровой фотокамере с 3-позиционным разделителем луча. (0:100, 100:0, 80:20), разделительная планка может быть собрана с любой стороны в соответствии с требованиями пользователя

Темное поле (Вафля)

Темное поле позволяет наблюдать рассеянный или дифрагированный свет от образца. Все, что не плоское, отражает этот свет, в то время как все, что плоское, кажется темным, поэтому недостатки четко выделяются. Пользователь может определить наличие даже мельчайшей царапины или дефекта размером до 8 нм, что меньше предела разрешающей способности оптического микроскопа. Темное поле идеально подходит для обнаружения мельчайших царапин или дефектов на образце и исследования образцов с зеркальной поверхностью, включая пластины.

Дифференциальный интерференционный контраст (проводящие частицы)

ДИК — это микроскопический метод наблюдения, при котором разница высот образца, не обнаруживаемая в светлом поле, становится рельефным или трехмерным изображением с улучшенным контрастом. В этом методе используется поляризованный свет, и его можно настроить с помощью трех специально разработанных призм. Идеально подходит для исследования образцов с очень незначительной разницей в высоте, включая металлургические структуры, минералы, магнитные головки, жесткие диски и поверхности полированных пластин.

Наблюдение за проходящим светом (LCD)

Для прозрачных образцов, таких как ЖК-дисплеи, пластмассы и стеклянные материалы, возможно наблюдение в проходящем свете с использованием различных конденсоров. Исследование образца в проходящем светлом поле и поляризованном свете может выполняться в одной удобной системе.

Поляризованный свет (асбест)

Этот микроскопический метод наблюдения использует поляризованный свет, генерируемый набором фильтров (анализатор и поляризатор). Характеристики образца напрямую влияют на интенсивность света, отраженного через систему. Подходит для металлургических структур (т. е. структуры роста графита на чугуне с шаровидным графитом), минералов, ЖК-дисплеев и полупроводниковых материалов.

Применение

Микроскопы серии BS-6025 широко используются в институтах и лабораториях для наблюдения и определения структуры различных металлов и сплавов, а также могут использоваться в электронной, химической и полупроводниковой промышленности, такой как пластины, керамика, интегральные схемы, электронные микросхемы, печатные устройства, печатные платы, ЖК-панели, пленка, порошок, тонер, проволока, волокна, гальванические покрытия и другие неметаллические материалы.

Технические характеристики

Размеры BS-6025RF 

Размеры BS-6025ТRF

Единица: мм

Схема